​Dr. Luis Felipe Lastras Martínez



Educación

Maestría

De septiembre de 1988 a junio de 1990, Maestría en Ciencias (Física), Facultad de Ciencias UASLP. 

Doctorado

De septiembre de 1990 a marzo de 1996, Doctorado en Ciencias (Física), Facultad de Ciencias UASLP.

Posdoctorado

De junio de 1997 a octubre de 1999, Estancia Posdoctoral en el Instituto Max-Planck para Estado Sólido, Grupo del Profesor Dr. Manuel Cardona, Stuttgart Alemania.


Puestos Académicos Administrativos

Miembro de la Comisión de Investigación y Desarrollo Tecnológico de la Universidad Autónoma de San Luis Potosí, del 29 de mayo de 2003 al 29 de mayo de 2007.
Coordinador del Posgrado PNP en Ciencias Aplicadas de la Universidad Autónoma de San Luis Potosí, del septiembre de 2004 a agosto de 2007.
Coordinador de la Licenciatura en Ingeniería Física de la Universidad Autónoma de San Luis Potosí, del junio de 2010 a la fecha.


Dirección de Tesis

Licenciatura: 11

Maestría: 15

Doctorado: 9


Distinciones Recibidas

Primer Lugar en el Certamen: “Premio Anual en Ciencias FRANCISCO ESTRADA”, con el trabajo titulado: “Diseño y construcción de un espectrómetro para la medición de espectros de reflectancia diferencial, 20 de noviembre de 1992, San Luis Potosí, S.L.P.

Arbitro de la Revista Physical Review B desde junio 2001.

Arbitro de la Revista Physica Status Solidi desde junio 1999.
Arbitro de la Revista Journal of Applied Physics desde 2010.
Arbitro de la Revista Journal of Nanoscience and Nanotechnology desde 2010.
Arbitro de la Revista Aannalen der physik desde 2010.
Arbitro de la Revista Mexicana de Física, desde junio 2006.
Arbitro de la Revista Superficies y Vacio, desde junio 2002.
Arbitro de proyectos SEP-CONACyT y FOMIX-CONACyT  desde 2000.
Arbitro de proyectos  Cooperación Científica y Tecnológica Internacional México–Alemania (DAAD-PROALMEX) desde 2008.

Premio a la Investigación Científica y Tecnológica de la Universidad Autónoma de San Luis Potosí 2002, en la modalidad de Investigación Científica en la categoría de Investigador Joven, 27 de septiembre de 2002.


Publicaciones 

1) "A spectrometer for the measurement of reflectance-difference spectra", L.F. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro and A. Lastras-Martínez, Rev. Sci. Instrum. 64 (8), 2147 (1993). (Impact Factor: 1.499).

2) "Surface potential inversion of thermal annealed GaAs (001) observed by reflectance-difference spectroscopy", R.E. Balderas-Navarro, M. A. Vidal-Borbolla, A. Lastras- Martínez and  L.F. Lastras- Martínez, Revista Mexicana de Fisica 40, 1 (1994). (Impact Factor: 0.37).

3)  "Dislocation-induced effects in the reflectance-difference spectrum of semi-insulating GaAs (100)", L.F. Lastras-Martínez and A. Lastras- Martínez, Solid State Communications 98, 479 (1996). (Impact Factor: 1.649).

4)  "Reflectance-difference spectroscopy: a technique for the characterization of dislocations in semiconductors", L.F. Lastras-Martínez and A. Lastras-Martínez, SPIE 2693, 250 (1996). (Impact Factor: 0.959).

5)  "Reflectance anisotropy of GaAs (100): Dislocation-induced piezo-optic effects" L.F. Lastras-Martínez and A. Lastras-Martínez, Phys. Rev. B 54, 10726 (1996). (Impact Factor: 3.691).

6)  "Isotope effects on the electronic critical points of Germanium: Ellipsometric investigations of the E1 and E1+D1 transitions", D. Rönnow, L.F. Lastras-Martínez and M. Cardona, Eur. Phys. J. B 5, 29 (1998). (Impact Factor: 1.534).

7)  "Reflectance Difference Spectroscopy of GaAs Asymmetric Surface Quantum Wells above the Fundamental Gap", L.F. Lastras-Martínez, P.V. Santos, D. Rönnow, M. Cardona, P. Specht and K. Eberl, Phys. Stat. Sol. (a) 170, 317 (1998). (Impact Factor: 1.463).

8)  "Piezo-optical coefficients of ZnSe and ZnTe above the fundamental gap", D. Rönnow, M. Cardona and L.F. Lastras-Martínez, Phys. Rev. B, 59 5581 (1999). (Impact Factor: 3.691).

9)  "Determination of piezo-optical properties of semiconductors above the fundamental gap by means of reflectance difference spectroscopy", D. Rönnow, L.F. Lastras-Martínez, M. Cardona and P.V. Santos, J. Opt. Soc. Am. A 16, 568 (1999). (Impact Factor: 1.562).

10)  "Piezo-optical properties of ZnSe and ZnTe above the fundamental gap studied by reflectance difference spectroscopy", D. Rönnow, L.F. Lastras-Martínez, M. Cardona and P.V. Santos, 24ICPS-World Scientific (1998).

11)  "Dielectric Function of NaV2O5 and Its Temperature Dependence", M.J. Konstantinovic, L.F. Lastras-Martínez, M. Cardona, Z. V. Popovic, A.N. Vasilev, M. Isobe and Y. Ueda, Phys. Stat. Sol. (b) 211, R3 (1999). (Impact Factor: 1.316).

12)  "Model for the linear electro-optic reflectance-difference spectrum of GaAs(001) around E1 and E1+D1", A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, L.F. Lastras- Martínez   and M. A. Vidal-Borbolla, Phys. Rev. B 59, 10234 (1999). (Impact Factor: 3.691).

13)  "Comment on: Ab Initio Calculation of Excitonic Effects in the Optical Spectra of Semiconductors", M. Cardona, L.F. Lastras- Martínez   and D.E. Aspnes, Phys. Rev. Lett. 83, 3970 (1999). (Impact Factor: 7.37)

14)  "Photoreflectance spectroscopy of CdTe(001) around E1 and E1+D1: linear electro-optic spectrum", A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, P. Cantú-Alejandro and L.F. Lastras- Martínez, J. Appl. Phys. 86, 2062 (1999). (Impact Factor: 2.169).

15)  "Linear Electro-optic Photoreflectance Spectra of GaAs and CdTe around E1 and E1+D1", A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, P. Cantú-Alejandro and L.F. Lastras- Martínez, Phys. Stat. Sol. (a), 175, 45 (1999). (Impact Factor: 1.463).

16)  "Isotopic effects on the dielectric response of Si around the E1 gap", L. F. Lastras-Martínez, T. Ruf, M. Konuma, M. Cardona, and D. E. Aspnes,  Phys. Rev. B. 61, 12946 (2000). (Impact Factor: 3.691).

17)  "Linear electro-optic reflectance modulated spectra of GaAs (001) around E1 and E1+D1", A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro and L.F. Lastras- Martínez, Thin Solid Films 373, 207 (2000). (Impact Factor: 2.014).

18)  "High-resolution spectroscopy with reciprocal-space analysis: application to isotopically pure Si", S.D. Yoo, D.E. Aspnes, L.F. Lastras- Martínez, T. Ruf, M. Konuma and M. Cardona, Phys. Status Solidi (b), 220, 117 (2000). (Impact Factor: 1.316).

19)  "Reflectance-difference spectroscopy of semi-insulating GaAs (110) around the fundamental gap", L.F. Lastras- Martínez, and A. Lastras-Martínez, Phys. Rev. B. 64, 085309 (2001). (Impact Factor: 3.691).

20)  "Optical anisotropy of (001)-GaAs surface quantum wells", L.F. Lastras- Martínez, D. Rönnow, P.V. Santos, M. Cardona and K. Eberl, Phys. Rev. B. 64, 245303 (2001). (Impact Factor: 3.691).

21)  "Photoreflectance-difference spectroscopy of Gaas (001) under [110] uniaxial stress: linear and quadratic electro-optic components", L.F.  Lastras-Martinez, M. Chavira-Rodriguez, A. Lastras-Martinez and R.E. Balderas-Navarro, Phys. Rev. B. 66 075315 (2002). (Impact Factor: 3.691). (TESIS MAESTRIA: M. Chavira-Rodriguez).

22)  "Strain induced optical anisotropies in zincblende semiconductors", L. F. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, M. Chavira-Rodríguez, J.M. Flores-Camacho and A. Lastras-Martínez, phys. Stat. Sol. (b) 240, 500-508 (2003). (Impact Factor: 1.316). (TESIS MAESTRIA: M. Chavira-Rodriguez).

23)  "Gigant reflectance anisotropy of polar cubic semiconductors in far infrared", Yu. A. Kosevich, J. Ortega-Gallegos, A. G. Rodríguez,  L. F. Lastras-Martínez  and A. Lastras-Martínez, phys. stat. sol. (c) 0, 2982-2986 (2003). (Impact Factor: 0.613). (TESIS MAESTRIA:  J. Ortega-Gallegos).

24) "Model for the strain-induced reflectance-difference spectra of InGaAs/GaAs (001) epitaxial layers", A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, C.I. Medel-Ruiz, J.M. Flores-Camacho,  A. Gaona-Couto, and L.F. Lastras-Martínez, phys. stat. sol. (c) 0, 2987-2991 (2003). (Impact Factor: 0.613).

25) "In situ monitoring of the 2D–3D growth-mode transition in In0.3Ga0.7As/GaAs (0 0 1) by reflectance-difference spectroscopy" C.I. Medel-Ruiz, A. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, S.L. Gallardo, V.H. Mendez-García, J.M. Flores-Camacho, A. Gaona-Couto, L.F. Lastras-Martínez,  Appl. Surf. Sci . 221 48-52 (2004). (Impact Factor: 2.103).

26) "Reflectance difference spectroscopy of GaAs(001) under a [110] uniaxial stress", L.F. Lastras-Martínez , M. Chavira-Rodríguez, R.E. Balderas-Navarro, J.M. Flores-Camacho and A. Lastras-Martínez, Phys. Rev. B 70, 035306 (2004). (Impact Factor: 3.691). ). (TESIS DOCTORAL: M. Chavira-Rodriguez).

27) "Stress-induced optical anisotropies measured by modulated reflectance", L F Lastras-Martínez, R E Balderas-Navarro, A. Lastras-Martínez and K. Hingerl, Semicond. Sci. Technol. 19 (2004) R35-R46. (Impact Factor: 1.723).

28) "Lock-in amplifier-based rotating-analyzer spectroscopic ellipsometer with micro-controlled angular frequency", J.M. Flores-Camacho, O.F. Núñez-Olvera, G. Rodríguez-Pedroza, A. Lastras-Martínez and L F Lastras-Martínez, REVISTA MEXICANA DE FISICA 51 (3): 274-283 JUN 2005. (Impact Factor: 0.37). (TESIS MAESTRIA: J.M. Flores-Camacho).

29)  "Electron-phonon interaction effects on the dielectric response of Si",  L F Lastras-Martínez and M. Cardona, Articulo publicado por invitación en la edición especial del 25 aniversario de la revista de la SMCTSM (2005), Superficies y Vacío, 18(4), 1-6 (2005).

30) "Interfaces in GaxIn1-xAsySb1-y/AlxGa1-xAsySb1-y multi-quantum well heteroestructures probed by transmittance anisotropy spectroscopy", E.A. Cerda, R E Balderas-Navarro, A. Lastras-Martínez, L F Lastras-Martínez,  A. Garnache, L. Cerutti, and A. Jouille, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 98, 066107 (2005). (Impact Factor: 2.169).  (TESIS MAESTRIA: E.A. Cerda).

31) "Measurement of the surface strain induced by reconstructed surfaces of GaAs (001) using photoreflectance- and reflectance-difference spectroscopies", L F Lastras-Martínez, J.M. Flores-Camacho, A. Lastras-Martínez, R E Balderas-Navarro, and M. Cardona, Phys. Rev. Lett. 96 (4): Art. No. 047402 FEB 3 2006 (Impact Factor: 7.37) (TESIS DOCTORADO: J.M. Flores-Camacho).

32)  "Reconstruction Induced Surface Strain in GaAs (001) Surfaces Characterized by Reflectance Modulated Spectroscopies",
L. F. Lastras-Martínez, J. M. Flores-Camacho, R. E. Balderas-Navarro, A. Lastras-Martínez, and M. Cardona, AIP Conf. Proc. 893, 11-12 (2007) (Impact Factor: 2.169). (TESIS DOCTORADO: J.M. Flores-Camacho).

33) "Reflectance difference spectroscopy as an optical probe for the in situ determination of doping levels in GaAs", Lastras-Martinez, A.; Lara-Velazquez, I.; Balderas-Navarro, R.E.; Ortega-Gallegos, J.; Lastras-Martinez, L.F.; Electronics and Photonics, 2006. MEP 2006. Multiconference on, 7-10 Nov. 2006 Page(s):4–7 Digital Object Identifier  10.1109/MEP.2006.335613.

34) "Effect of recontruction-induced strain on the reflectance difference spectroscopy of GaAs (001) around E1 and E1+D1 transitions", L F Lastras-Martínez, J.M. Flores-Camacho, R E Balderas-Navarro, M. Chavira-Rodríguez, A. Lastras-Martínez and M. Cardona, Phys. Rev. B. 75, 235315 (2007). (Impact Factor: 3.691). (TESIS DOCTORADO: J.M. Flores-Camacho).

35) "Reflectance difference spectrometer based on the use of a CCD camera", L. F. Lastras-Martínez, R. Castro-García, R. E. Balderas-Navarro, and A. Lastras-Martínez, Proc. SPIE Vol. 6422, 64221C. (May. 16, 2007). (Impact Factor: 0.959). (TESIS MAESTRIA: R. Castro-García).

36) "Reflectance-difference spectroscopy as an optical probe for the in situ determination of doping levels in GaAs", A. Lastras-Martínez, I. Lara-Velázquez, R. E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, and L. F. Lastras-Martínez Proc. SPIE Vol. 6422, 64221H (May. 16, 2007). (Impact Factor: 0.959).

37) "Reflectance-difference spectroscopy as an optical probe for in situ determination of doping levels in GaAs", A. Lastras-Martínez, I. Lara-Velázquez, R. E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, S. Guel-Sandoval, L. F. Lastras-Martínez, phys. stat. sol. (c) 5, No. 8, 2565–2568 (2008). (Impact Factor: 0.613). (TESIS DOCTORAL: J. Ortega-Gallegos).

38) "Optical anisotropy induced by mechanical strain around the fundamental gap of GaAs" J. Ortega-Gallegos, A. Lastras-Martínez, L. F. Lastras-Martínez, R. E. Balderas-Navarro phys. stat. sol. (c) 5, No. 8, 2561–2564 (2008). (Impact Factor: 0.613). (TESIS DOCTORAL: J. Ortega-Gallegos).

39) "Reflectance-anisotropy study of the dynamics of molecular beam epitaxy growth of GaAs and InGaAs on GaAs (001)" J. Ortega-Gallegos, A. Lastras-Martínez, L. F. Lastras-Martínez, R. E. Balderas-Navarro phys. stat. sol. (c) 5, No. 8, 2573–2577 (2008). (Impact Factor: 0.613). (TESIS DOCTORAL: J. Ortega-Gallegos).

40) "Surface strain contributions to the lineshapes of reflectance difference spectra for one-electron and discrete-exciton transitions" L. F. Lastras-Martínez, J. Ortega-Gallegos, R. E. Balderas-Navarro, J. M. Flores-Camacho, M. E. Chavira-Rodríguez, A. Lastras-Martínez, M. Cardona, phys. stat. sol. (c) 5, No. 8, 2591–2594 (2008). (Impact Factor: 0.613). (TESIS DOCTORAL: J. Ortega-Gallegos).

41) "One electron and discrete excitonic contributions to the optical response of semiconductors around E1 transition: analysis in the reciprocal space", L. F. Lastras-Martínez,1, R.E. Balderas-Navarro,  J. Ortega-Gallegos, Lastras-Martínez, J. M. Flores-Camacho and K. Hingerl, J. Opt. Soc. Am. B  26, 725-733 (2009). (Impact Factor: 2.185).

42) "Micro-reflectance difference spectrometer based on a charge coupled device camera: surface distribution of polishing-related linear defect density in GaAs (001)", L. F. Lastras-Martínez, R. Castro-García, R. E. Balderas-Navarro and A. Lastras-Martínez, Applied Optics, Vol. 48, Issue 30, pp. 5713-5717 (2009). (Impact Factor: 1.748). (TESIS DOCTORAL: R. Castro-García).

43) "Dots-in-a-Well InGaAs Based Laser Probed by Photoreflectance-Anisotropy Spectroscopy", J.V. Gonzalez-Fernandez, R.E. Balderas-Navarro, I. Lara-Velazquez, J. Ortega-Gallegos, R. Diaz de Leon-Zapata, L.F. Lastras-Martínez and A. Lastras-Martínez, III Conference of University of Guanajuato IEEE Students Chapter (2009).

44) "Optical anisotropies of Si grown on step-graded SiGe(110) layers", R.E. Balderas-Navarro, L.F. Lastras-Martinez, K. Arimoto, R. Castro-Garcia,  O. Villalobos-Aguilar, A. Lastras-Martinez, K. Nakagawa, K. Sawano, Y. Shiraki, N. Usami, and K. Nakajima, Appl. Phys. Lett. 96, 091904 (2010). (Impact Factor: 3.844).

45) "Simulating Crystal Growth in GPU Parallel Machines", M.A. Lastras-Montaño, M. Mejia, L.F. Lastras-Martínez and J. Ortega-Gallegos, First International Supercomputing Conference in Mexico 2010. (TESIS MAESTRIA: M.A. Lastras-Montaño).

46) "Polarization contrast linear spectroscopies for cubic semiconductors under stress: macro- and micro-reflectance difference spectroscopies", L. F. Lastras-Martínez, R.E. Balderas-Navarro, R. Castro-García, R. Herrera-Jasso, M. Chavira-Rodriguez and A. Lastras-Martínez, Annalen der Physik, Special Issue: "Optical and Vibrational Spectroscopies" Volume 523, Issue 1-2, pages 121–128, January  (2011). (Impact Factor: 1.84). (TESIS DOCTORAL: R. Castro-García).

47) "Effects of substrate orientation on the optical anisotropy spectra of GaN/AlN/Si heterostructures in the energy range from 2.0 to 3.5eV ", L. F. Lastras-Martínez, R. E. Balderas-Navarro, R. Herrera-Jasso, J. Ortega-Gallegos, A. Lastras-Martínez, Y. Cordier, J.-Ch. Moreno, E. Frayssinet, and F. Semond, J. Appl. Phys. 111, 023511 (2012) doi: 10.1063/1.3677949. (Impact Factor: 2.169).

48)  "Micro reflectance difference techniques: optical probes for surface exploration", L. F. Lastras-Martinez, O. del Pozo-Zamudio, R. Herrera-Jasso, N.A. Ulloa-Castillo, R.E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, and A. Lastras-Martinez,  physica status solidi B, 249, No6 1119-1123 (2012). DOI 10.1002/pssb.201100738. (Impact Factor: 1.316). (TESIS MAESTRIA: O. del Pozo-Zamudio).

49) "A rapid reflectance-difference spectrometer for real-time semiconductor growth monitoring with sub-second time resolution", O. Nuñez-Olvera, R.E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, L.E. Guevara-Macías, A. Armenta-Franco, M.A. Lastras-Montaño, L.F. Lastras-Martínez and A. Lastras-Martínez, Rev. Sci. Intrum. 83, 103109 (2012). (Impact Factor: 1.499).

50)  "Autogeneración de energía eléctrica en viviendas de alto consumo en la ciudad de San Luis Potosí: un análisis económico" G. Rodríguez-Pedroza, I. Lara-Vázquez, J. López-Alanís, O. Núñez-Olvera, L.F. Lastras-Martínez, R. Balderas-Navarro, J. Ortega Gallegos, I. Campos-Cantón, A. Lastras-Martínez, Memorias del IX Encuentro de Participación de la Mujer en la Ciencia, León, Gto. mayo de 2012.

51) "Reflectance anisotropies of compressively strained Si grown on vicinal Si12xCx(001)", R. E. Balderas-Navarro, N. A. Ulloa-Castillo, K. Arimoto, G. Ramirez-Melendez, L. F. Lastras-Martinez, H. Furukawa, J. Yamanaka, A. Lastras-Martinez, J. M. Flores-Camacho, N. Usami, D. Stifter, and K. Hingerl APPLIED PHYSICS LETTERS 102, 011902 (2013). (Impact Factor: 3.844).

52) "Optical characterization of orientation-patterned GaP structures by micro reflectance difference spectroscopy", L. F. Lastras-Martínez, R. Herrera-Jasso, N. A. Ulloa-Castillo, R.E. Balderas-Navarro, and A. Lastras-Martínez, Angie C. Lin, M.M. Fejer and James S. Harris, J. of Appl. Phys.  114, 173504 (2013). (Impact Factor: 2.169). (TESIS DOCTORAL: R. Herrera-Jasso).

53) "Real-time Reflectance-difference spectroscopy of GaAs MBE homoepitaxial growth", Alfonso Lastras-Martinez, Jorge Ortega-Gallegos, Liliana Estela Guevara-Macías, Óscar Núñez-Olvera , Raul E Balderas-Navarro, Luis Felipe Lastras-Martínez, Luis Alfonso Lastras-Montaño, Miguel Ángel Lastras-Montaño, APL MATERIALS 2, 032107 (2014). (Impact Factor: 3.79).

54) "Measurement of the shear strain of the Gd2O3/GaAs(001) interface by photoreflectance diference spectroscopy" N. A. Ulloa-Castillo, L. F. Lastras-Martínez, R. E. Balderas-Navarro, R. Herrera-Jasso, and A. Lastras-Martínez, APPLIED PHYSICS LETTERS 105, 181905 (2014)  (Impact Factor: 3.844). (TESIS DOCTORAL: N.A. Ulloa-Castillo).

55) "Characterization of Si3N4/Si(111) thin films by reflectance difference spectroscopy", L. F. Lastras-Martínez, N. A. Ulloa-Castillo, R. Herrera-Jasso, R.E. Balderas-Navarro, and A. Lastras-Martínez, M. Pandikunta, O. Ledyaev, V. Kuryatkov, and S. Nikishin, Japanese Journal of Applied Physics 54, 021501 (2015) (Impact Factor: 1.067). (TESIS DOCTORAL: R. Herrera-Jasso).

56) "Reflectance-difference spectroscopyasaprobeforsemiconductor epitaxial growthmonitoring" A.Lastras-Martínez, J.Ortega-Gallegos, L.E.Guevara-Macías, O.Nuñez-Olvera, R.E. Balderas-Navarro, L.F.Lastras-Martínez, L.A.Lastras-Montaño, M.A.Lastras-Montaño, Journal of Crystal Growth, doi:10.1016/j.jcrysgro.2015.02.061, online 21 February 2015.
57)  "A multichannel reflectance anisotropy spectrometer for epitaxial growth monitoring", D Ariza-Flores, J Ortega-Gallegos, O Núñez-Olvera, R E Balderas-Navarro, L F Lastras-Martínez, L E Guevara-Macías and A Lastras-Martinez, Measurement Science and Technology,  Volume 26,  Number 11, 115901 (5pp) (2015).

58)  "Residual electric fields of InGaAs/AlAs/AlAsSb (001) coupled double quantum wells structures assessed by photoreflectance anisotropy", J. V. González-Fernández, R. Herrera-Jasso, N. A. Ulloa-Castillo, J. Ortega-Gallegos, R. Castro-García, L. F. Lastras-Martínez, A. Lastras-Martínez, R. E. Balderas-Navarro, T. Mozume, S. Gozu, Int. J. Mod. Phys. B 30, 1550248 (2016) [11 pages] DOI: http://dx.doi.org/10.1142/S0217979215502483.

59)  "Structural Characterization of a Capillary Microfluidic Chip Using Microreflectance" Luis F. Lastras-Martı´nez1, Raul E. Balderas-Navarro, Ricardo Castro-Garcia, Karen Hernandez-Vidales, Juan Almendarez-Rodriguez, Rafael Herrera-Jasso, Adrian Prinz, and Iris Bergmair, Applied Spectroscopy, (2016) DOI: 10.1177/0003702816671961.