​Dr. Oscar Fernando Nuñez Olvera



Formación Académica

14/12/2012 Doctor en Ingeniería Eléctrica, Universidad Autónoma de San Luis Potosí / Facultad de Ingeniería.

25/04/1991 Maestro en Ciencias en Ingeniería Electrónica, Tecnológico Nacional de México / Morelos.

04/10/1985 Ingeniero Industrial en Electrónica, Tecnológico de San Luis Potosí.


Artículos

2016. Effect of the oxidation of aluminum bottom electrode in a functionalized-carbon nanotube based organic rewritable memory device ISSN: 0040-6090, I.A. Rosales-Gallegos a, J.A. Avila-Niño b,c, M. Reyes-Reyes a, O. Núñez-Olvera a, R. López-Sandoval, ELSEVIER Thin Solid Films, Vol.619, Pag.10-16 Revistas Indizadas.

2016. Instrumentación de un impulsor para lámpara de LED ISSN 1405-7743, González-Ventura José Ranulfo, Campos-Cantón Isaac, Camacho-Juárez Sergio, Núñez-Olvera Oscar Fernando, Ingeniería Investigación y Tecnología, Vol.XVII, Pag.445-452, Revistas Arbitradas.

2015. A MULTICHANNEL REFLECTANCE ANISOTROPY SPECTROMETER FOR EPITAXIAL GROWTH MONITORING Online ISSN: 1361-6501, Print ISSN: 0957-0233, D Ariza-Flores, J Ortega-Gallegos, O Núñez-Olvera, R E Balderas-Navarro, L F Lastras-Martínez, L E Guevara-Macías and A Lastras-Martinez, IOP Publishing, Vol.26, Pag.0-0, Revistas Indizadas.

2015. REFLECTANCE-DIFFERENCE SPECTROSCOPY AS A PROBE FOR SEMICONDUCTOR EPITAXIAL GROWTHMONITORING : ISSN: 0022-0248, A.Lastras-Martínez a,n, J.Ortega-Gallegos a, L.E.Guevara-Macías a, O.Nuñez-Olvera a, R.E. Balderas-Navarro a, L.F.Lastras-Martínez a, L.A.Lastras-Montaño b, M.A.Lastras-Montaño, Journal of CrystalGrowth, Vol.425, Pag.21-24, Revistas Indizadas.

2014. REAL-TIME REFLECTANCE-DIFFERENCE SPECTROSCOPY OF GAAS MOLECULAR BEAM EPITAXY HOMOEPITAXIAL GROWTH E-ISSN: 2166-532X, A. Lastras-Martínez, J. Ortega-Gallegos, L. E. Guevara-Macías, O. Nuñez-Olvera, R. E. Balderas-Navarro, L. F.,Lastras-Martínez, L. A. Lastras-Montaño, and M. A. Lastras-Montaño, AIP APL Materials, Vol.2, Pag.0-0, Revistas Indizadas.

2012. A RAPID REFLECTANCE-DIFFERENCE SPECTROMETER FOR REAL-TIME SEMICONDUCTOR GROWTH MONITORING WITH SUB-SECOND TIME RESOLUTION ISSN:0034-6748, E-ISSN: 1089-7623, O. Núñez-Olvera, R.E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, L.E. Guevara-Macías,A. Armenta-Franco, M.A. Lastras-Montaño, L.F. Lastras-Martínez, and A. Lastras-Martínez, REVIEW OG SSCIENTIFIC INSTRUMENTS, Vol.83, Pag.0-0, Revistas Arbitradas.

2012COLOR MULTIPLEXING USING DIRECTIONAL HOLOGRAPHIC GRATINGS AND LINEAR POLARIZATION ISSN:1742-6596, L I Lugo, A Rodríguez, G Ramírez, S Guel, OF Núñez, IOP Publishing, Vol.274, Pag.0-0, Revistas Arbitradas.

2005. LOCK-IN AMPLIFIER-BASED ROTATING-ANALYZER SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER WITH MICRO-CONTROLLED ANGULAR FREQUENCY ISSN:0035-001X, J.M. Flores-Camacho. O.F. Núñez-Olvera, G. Rodríguez-Pedroza, A. Lastras-Martínez, L.F. Lastras-Martínez, Revista Mexicana de Física, Vol.51, Pag.274-283, Revistas Arbitradas.

1988. UN CONTROLADOR DE POTENCIA PARA CORRIENTE ALTERNA ISSN:0035-001X, Oscar Núñez, Jesus Urías, Revista Mexicana de Física, Vol.34, Pag.74-84, Revistas Arbitradas.


Capítulos de Libros

2013. SIMULADORES DE FUENTES DE LUZ NATURAL Y ARTIFICIAL, Simuladores didácticos para Arquitectura y Construcción ISBN: 978-607-9343-28-6 , TALLERES DE IMPRESIÓN UASLP, Vol. , Pags. 67, José Alejandro Sáenz Zubieta, Luis Guillermo Tirado Pruneda, Juan Carlos Gámez, Jean Fritche Tramiset, José Fernando Madrigal Guzmán, Oscar Núñez Olvera.


Tesis Dirigidas

Licenciatura: 9

Maestría: 7


Patentes

SISTEMA Y METODO PARA CONTROLAR LA TEMPERATURA Y FORMACIÓN DE HIELO EN REFRIGERADORES, 222398 B, PA/A/1998/001037, F25D17/00 La presente invención se refiere a un sistema y a un método para controlar la temperatura y formación de hielo en refrigerador domésticos del tipo que comprenden, un evaporador, un condensador y un compresor, dicho sistema para controlar la temperatura y formación de hielo ., En explotación Comercial.


Distinciones y Premios

2012. Mención honorífica Tesis de Doctorado, Universidad Autónoma de S.L.P. México, Faculta de Ingeniería UASLP.

1995.Medalla de bronce en el Foro de Calidad de Whirlpool 1995. Vitro S.A. México, Vitro S.A.

1992. Primer lugar en el Reconocimiento al Desarrollo Tecnológico 1992 de Vitro S.A. Vitro S.A. México, Vitro S.A.