En el Laboratorío de Nanoscopia Óptica de Campo Cercano permite caracterizar óptica (NSOM, por sus siglas en inglés de Near field Scanning Optical Microscopy) y topográficamente (AFM, por sus siglas en inglés de Atomic Force Microscopy) diversos tipos muestras entre los que se pueden mencionar se encuentran:

a) Materiales semiconductores por ejemplo Arseniuro de Galio (GaAs) , Silicio  (Si), Fosfuro de Indio (InP) entre otros.

b) Materiales bidimensionales como el Grafeno sintentizado en superficies como Carburo de Silicio (SiC).

c) Monocapas bidimensionales de dicalcogenuros de metales de transición como diselenuro de Tungsteno (WSe2), Disulfuro de Tungsteno (WS2), Diseleniuro de Molibdeno (MoSe2), Disulfuro de Molibdeno (MoS2).

d) Nanoalambres de Nitruro de Galio (GaN Nanowires).

e)Óxido de Vanadio (VO2) dopado con Molibdeno (Mo) sintetizado sobre Silicio (Si).

f)Grafitos con su típica orientación planar y altamente ordenados por ejemplo grafito pirolítico altamente orientado (HOPG, por sus siglas en inglés de Highly Oriented Pyrolytic Graphite).

g)Nanoparticulas de Plata evaporadas sobre substratos de vidrio, Nanoparticulas de Plata evaporadas sobre Grafeno.



SNOM (Scanning Near Optical Microscopy)


Contacto: Dr. Ricardo Castro García

email: ricardo.castroga@gmail.com